读取重试Flash Extractor-芯片级数据恢复取证方案025-83608636

读取重试

分步指南

条款

断开/连接读卡器
FE 会要求这样做
拜托，每次他问的时候都这样做
如果电源适配器 v3 连接，他不会问
但是使用电源适配器 RR 测试会更慢
如何理解哪个 RR 代码匹配？
查看 ID 的第一个字节：
2c – Micron（美光）
45 - Sandisk（闪迪）
ad – Hynix（海力士）
ec – Samsung（三星）
方法一：
- 选择代码
- 按“库”（有些代码没有库值）
- 如果看到 ECC 地图变化很大（不是随机变化）。例如，从许多红色变成全绿色。然后代码匹配
方法二：
- 选择代码
- 查找基地/查找鞍点
- 看图标。如果它有曲线，则代码匹配。如果它有随机数据，则代码不匹配曲线：

如何找到较佳 RR 值
方法一：
- 使用库（如果 RR 代码有它）
-调整（可以重复几次）
方法二： - 寻找基
-调整（可以重复几次）
方法三：
- 查找鞍点（无需 Tune 即可制作 100% 绿色 ECC 地图）
-调整（可以重复几次）
注意：较好的结果不是屏幕较后一个 ECC
日志中显示的较佳结果：

查看日志
使用“持续读取”程序
您将在屏幕上看到找到 RR 代码的效果
当找到较佳 RR 值时
- 在单独的（临时）文件夹中读取转储

- 用 FE 打开转储，检查它没有问题。例如，检查红色/绿色的地方没有变成灰色。或者绿色不会变成 100% 的红色
- 在 FE 中打开主要转储。使用 ECC_合并

第一次重读可以不用 ECC_合并。只需更换原始转储

注意
需要非常小心 Hynix(海力士) RR 代码
错误的 RR 值会极大地移动探测级别，以至于我们将阅读不同的页面
需要将找到的 RR 值保持在“查找基数”程序找到的值附近
始终遵循 FE 的“断开/连接”说明

功能

档案
测试档案中的 RR 值
有些代码没有档案

查找基址
尝试查找使用内存芯片的默认 RR 值
之后需要使用” 调整"进行调整
完成后，显示每个寄存器的图

查找鞍点
尝试在曲线上找到鞍
一些 RR 代码会在这个地方给出 100% 绿色 ECC 地图

如果 ECC 地图不是 100% 绿色可以使用” 调整"或再次重复查找鞍点

调整
更改范围内的每个寄存器 RR 值 (+Delta, -Delta)
重复此过程选定的次数

持续读取
读取 ECC 屏幕 100 次
您可以在屏幕上看到所选 RR 值的质量

使用情节
为选定的寄存器构建图
如果 ECC = ON，将运行缓慢，但会在图上显示绿色扇区的数量

存储原件

存储原件
你可以把它想象成装满水的杯子。闪存制造商相互竞争。首先，他们尝试制造更大容量的闪存驱动器。为了做到这一点，他们需要制作更小的存储单元尺寸。然后可以在相同大小的芯片上放置更多的存储单元

探头与水位之间的距离变得非常小。存储单元并不理想。随着时间的推移或填充后水位立即变少。如果水位低于探头水位，我们将读取错误值。如果水位和探头水位相等，我们得到随机值：

一些存储芯片具有可以改变探测电平的寄存器。如果我们把它调低一点，那么它会低于水位，我们可以读取正确的单元格值
这个寄存器是读重试寄存器

偶数/奇数块
有时偶数块和奇数块具有不同的 RR 值
如果在 RR 测试期间您看到块边界如图所示，这意味着您需要更改 ECC 窗口位置，即所有
扇区都来自一个块否则 RR 测试找不到较优值

DDR 总线
一些具有相同 ID 的芯片有两个配置
DDR = 开，DDR = 关
如何选择使用什么配置
使用“DDR”选项读取转储
使用十六进制编辑器打开转储
如果您看到双字节：
77 77 25 25 48 48 ec ec 9d 9d 38 38...
那么这不是 DDR 芯片
使用 DDR = off 的配置
您可以在 ECC 地图上看到红色/灰色线条：

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